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SEM扫描电子显微镜

【来源: | 发布日期:2018-12-04 】

功能简介

该仪器广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析,各种材料的形貌组织观察,材料断口分析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶 粒取向测量。

型号

Bruker Dimension Edge扫描探针显微镜

设备展示

技术参数

分辨率:0.8nm @15 kV 1.4 nm @1kV

放大倍数:12-2,000,000×

加速电压:调整范围:0.02-30 kV(无需减速模式实现)

探针电流:3pA-20nA(100nA可选)

低真空范围:10-500Pa(GeminiSEM300 VP可用)

样品室:330 mm(φ),270 mm(h)

样品台:5轴优中心全自动

X=130mm

Y=130mm

Z=50 mm

T=-3o-70o

R=360o连续

系统控制:基于Windows 7的SmartSEM操作系统,可选鼠标、键盘、控制面板控制