功能简介

该仪器广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶 粒取向测量。

型号

Bruker Dimension Edge扫描探针显微镜

设备展示

技术参数

分辨率：0.8nm @15 kV 1.4 nm @1kV

放大倍数：12-2,000,000×

加速电压：调整范围：0.02-30 kV（无需减速模式实现）

探针电流：3pA-20nA（100nA可选）

低真空范围：10-500Pa（GeminiSEM300 VP可用）

样品室：330 mm（φ），270 mm（h）

样品台：5轴优中心全自动

X=130mm

Y=130mm

Z=50 mm

T=-3o-70o

R=360o连续

系统控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系统，可选鼠标、键盘、控制面板控制