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AFM原子力显微镜

【来源:信息存储材料与器件研究所 | 发布日期:2017-06-28 】

功能简介

该仪器配备了tapping,contact,cafm,pfm,mfm等测试模块,可以测量样品的表面形貌,电导率分布,电畴和磁畴等信息,主要用于形貌测试。该仪器配备了超大样品台,对于尺寸较大的样品也可以测试。

型号

Bruker Dimension Edge扫描探针显微镜

设备展示

样品尺寸限制

1cmx 1cm < 样品< 15cm x 15cm

扫描范围

横向100X100μm,垂直1μm

分辨率

横向1um x 1um清晰形貌图;垂直1nm

粗糙度要求

样品表面起伏不能超过1um

注意事项

1.特殊模块需要导电针或者磁性探针,可以自带,也可以使用平台的探针;

2.使用结束请如实登记使用机时和设备状况;

3.还有疑问请咨询设备管理员;